準確可靠的光學(xué)鍍膜紅外光譜測量是當今最嚴峻的挑戰(zhàn)之一。世界各地的光學(xué)制造商為其平面光學(xué)元件指定了越來越復(fù)雜的紅外鍍膜，專注于更好地檢測和識別遠距離物體。通常，獲得光學(xué)鍍膜的生產(chǎn)能力遠遠領(lǐng)先于現(xiàn)有的質(zhì)量認證計量能力。

PHOTON RT 7512?分光光度計是一款專為有效應(yīng)對這些挑戰(zhàn)而設(shè)計的獨特儀器。該儀器可以測量為 LWIR 設(shè)計的涂層的透射和反射。PHOTON RT 7512 的一個無與倫比的功能是能夠在偏振光下以高達 60 度的可變?nèi)肷浣沁M行自動測量。內(nèi)置功能支持這些重要的測試，該功能可準確補償高角度下的光束位移，并確保在短短幾分鐘內(nèi)獲得 S-pol 和 P-pol 結(jié)果。樣品的最大厚度可達創(chuàng)紀錄的 40 毫米。

主要優(yōu)勢：

色散分光光度計

在正常和可變 AOI 下進行高精度測量

內(nèi)置高對比度濾鏡

極低的噪音測量

全自動運行

有效的信噪比管理

RT7512分光光度計

光學(xué)配置

0°-60°入射角測量

10°，30°，45°，60°

參考樣品：金鏡

HgAr波長校驗燈

樣品倉

接口，尺寸和重量

凈重，kg

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