Wavelab Beamfiler 光斑分析儀
基礎(chǔ)光斑分析儀
基礎(chǔ)光斑分析儀
此系列產(chǎn)品是基礎(chǔ)光斑分析儀產(chǎn)品,比較適合科研基礎(chǔ)實驗和低功率激光產(chǎn)品的測量,又因其體積小且結(jié)構(gòu)兼容多面安裝,產(chǎn)品也適合在工業(yè)應(yīng)用中產(chǎn)品產(chǎn)線上產(chǎn)品調(diào)試和校準。目前已有多款產(chǎn)品已在客戶產(chǎn)生線上批量應(yīng)用。 |
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產(chǎn)品特點 1.具備高分辨率和小像素的特點 2.兼容脈沖和連續(xù)激光測量 3.光斑直徑測量范圍20μm~23mm? 4.接口高速USB3.0\GigE接口可選 5.緊湊設(shè)計,標配支架,衰減,使用方便. 6.支持手動和自動實時曝光及增益調(diào)節(jié) 7.高性價比,可代替進口激光光束質(zhì)量分析儀,實現(xiàn)激光光斑檢測及測試應(yīng)用 |
典型應(yīng)用 1.需要對激光光斑形狀進行檢測得場合,如激光生產(chǎn),維護以及激光應(yīng)用 2.光學(xué)器件質(zhì)量檢查 3.激光腔鏡調(diào)整 4.外光路準直 5.光纖對準耦合分析等 ? ? |
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